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集成电路测试仪发展概述我的钢铁【热门新闻】

2022-11-23 来源:芜湖农业机械网

集成电路测试仪发展概述_我的钢铁

集成电路测试仪的发展过程可以粗略地分为四个时代。

第一代始于1965年,测试对象是小规模集成电路,可测管脚数达16只。当时的测试仪用导线连接、拨动开关、按钮插件、数字开关或二极管矩阵等方法,编制自动测试序列,仅仅测量IC外部管脚的直流参数。

第二代始于1969年,测试对象扩展到中规模集成电路,可测管脚数24个,不但能测试IC的直流参数,还可用低速图形测试IC的逻辑功能。这是一个飞跃。

第三代始于1972年,这时的测量对象扩展到大规模集成电路(LSI),可测管脚数达60个,最突出的进步是把功能测试图形速率提高到10MHz。从1975年开始,测试对象为大规模、超大规模集成电路(LSI/VLSI),可测管脚剧增到128个,功能测试图形速率提高到20MHz。不但能有效地测量CMOS电路,也能有效地测量TTL、ECL电路。

1980年测试仪进入第四代,测量对象为VLSI,可测管脚数达256个,功能测试图形速率达100MHz,测试图形深度可达256K以上。测试仪的智能化水平进一步提高,具备与计算机辅助设计(CAD)连接能力,利用自动生成测试图形向量,并加强了数字系统与模拟系统的融合(有些系统实现了与激光修调设备连机工作,对存储器、A/D、D/A等IC芯片进行修正)。现在,测试仪的功能测试速率已达500MHz以上,可测管脚数多达1024个,定时精度为±55ps。测试仪的发展速度是惊人的。

我国在70年代初就开始了集成电路测试仪的研制工作,80年代后期国产集成电路测试仪得到了迅速发展。1986年科学院计算技术研究所研制成功ICT-2 LSI/VISI综合测试系统,功能测试速率10MHz/20MHz,通道数为48(128)个,OTA系统总定时精度±2ns。1987年北京自动测试技术研究所研制成功BC3170存储器测试系统,功能测试速率20MHz,通道数32个。同期光华无线电仪器厂推出GH3123型集成电路自动测试仪,北京自动测试技术研究所BC3110X型集成电路测试仪研制成功。这两种采用CAT技术的中小规模集成电路测试系统,标志着国产中小规模集成电路测试仪的技术水平进入新的发展时期和走向实用阶段。

1996年,由北京自动测试技术研究所、国营光华无线电仪器厂、中科院计算技术研究所联合研制成功3190数字集成电路大型测试系统,测试速率40MHz,通道数64个,定时精度±750ps,达到八十年代中后期国际先进水平。至此,国产集成电路测试仪上了一个新台阶。

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